通知公告
分析测试中心购置卡EM UC7/FC7超薄切片机自2020年11月25日开始试运行,欢迎校内师生预约测试!一、 设备信息生产厂家:LEICA(德国徕卡公司)仪器型号:LEICA EM UC7/FC7二、性能指标仪器可以提供半薄、超薄的常温和冷冻切片的样品,以及进行样品表面光滑处理,为光学显微镜、透射电镜、扫描电镜及原子力显微镜提供超薄切片样品。(1)切片速度:0.05—100 mm/sec(2)切片厚度:1nm—15μm(3)冷冻温度:-15°C— -185°C (4)有点离子抗静电器:220V,50/60Hz三、样品要求(1)高分子固体样品需告知样品的玻璃化转变温度,方便切片温度设置;(2)薄膜类、纤维类材料需先包埋聚合后,再进行超薄切片,送样人可提前做好包埋处理;(3)样品若不能沾水务必提前告知;四、收费标准 采用送样预约由管理老师进行制样,收费如下:  项目 价格 常温超薄切片 800元/样 包埋超薄切片 1200元/样 冷冻超薄切片 2000元/样  欢迎校内师生咨询联系!仪器链接:http://atc.tjpu.edu.cn/equipment/78地点:分析测试中心B103 联系人:贾云玲(13581855772,jiayunling@tiangong.edu.cn)
2020-11-16
分析测试中心场发射透射电镜现已完成了安装和调试,于2020年11月25日起对校内试运行,欢迎校内师生预约测试!一、仪器信息 (1)仪器名称:场发射透射电子显微镜(2)仪器型号:JEM-F200(3)主要配置:冷场发射电子枪、Oneview CMOS相机、无窗设计双探头能谱仪、STEM新式HAADF+A/BF探头、低背景双倾样品台、DENS原位加热样品杆、Gatan698冷冻样品杆等。二、功能与指标主要用于材料显微结构、成分等信息的分析,具备TEM、STEM成像;电子衍射;能谱点、线、面分析;原位加热测试;冷冻低温测试等功能。(1)加速电压: 80KV 与200 KV,可快速进行不同高压切换;(2)点分辨率:0.23nm(TEM);0.19nm(STEM);(3)样品倾斜角度X/Y:±35°/±30°(双倾样品台);(4)EDS能谱能量分辨率:136 ev; 元素检测范围:B~U元素。三、样品要求(1)透射电镜不能直接观察所有含有铁钴镍元素的磁性样品,请做如下处理观察(如私自测试磁性样品,造成仪器故障,由预约课题组承担所有维修费用):粉末样品请包埋切片,块体样品请FIB切片;(2)透射电镜能够观察厚度为200nm以下的样品;(3)对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分正反面;(4)对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度小于200nm; (5)高分辨样品要求厚度小于10nm。四、测试收费采用送样预约由管理老师进行测试,收费如下: 测试项目 测试费用(元/小时) 其他费用 常规测试(包含高分辨、电子衍射、STEM、EDS) 1500   EDS:50元/点、100元/面 制样费:100元/样 原位测试 DENS原位加热样品杆 2000 芯片:1500元/个 GATAN冷冻样品杆 2000 制样费:100元/样  欢迎校内师生咨询联系!仪器链接:http://atc.tjpu.edu.cn/equipment/77地点:分析测试中心B103。 联系人:贾云玲(13581855772,jiayunling@tiangong.edu.cn)
2020-11-16
分析测试中心固体表面Zeta电位仪、台式扫描电镜(飞纳-XL、TM3030)、全自动接触角测量仪、紫外可见近红外分光光度计,已经搬迁至科研中心B213室,自即日起(2020年10月20日)开始继续服役。已成功预约的同学,可前来进行测试。 分析测试中心 2020年10月20日
2020-10-20
中心新闻
20 2020-10
分析测试中心于2020年10月20日成功举办了固体表面Zeta电位仪(Anton Paar SurPASS-3)培训会。本次培训由安东帕(上海)有限公司李洋工程师主讲,采用理论、应用讲座与现场操作培训相结合的方式。 工程师深入浅出的介绍了固体表面电位测试的原理、Supass-3型电位仪可以实现的测试功能,进而结合纺织、材料、环境、化学等领域应用案例解析了仪器的功能和测试方法;最后,通过实验演示、典型样品测试模块使用等现场教学,强化了仪器实际操作技能。共计九十余名师生参加了此次培训会,并在会后与工程师就仪器使用中遇到的具体问题,进行了深入讨论。 Supass-3型固体表面Zeta电位仪采用流动电势/流动电流法测试样品表面电位,配备全自动pH值滴定系统可以进行pH范围扫描测试,配备可调狭缝样品槽和圆柱形样品槽,可以实现平板膜、中空纤维膜内/外表面和纤维、织物样品的宏观表面电位测试。 分析测试中心在学校学科建设经费支持下于2018年采购一台该仪器,自2018年10月正式服役以来,已完成逾3100小时测试服务,为我校科研教学工作提供了有力支撑。本次培训进一步加强了仪器管理老师和研究生同学对仪器功能、主要测试模块的理解,强化了仪器使用技能,将进一步增强分析测试中心的服务能力和对我校学科建设的支撑作用。
培训交流
卡尔蔡司(上海)管理有限公司X射线显微镜全国应用经理、高级资深应用技术专家曹春杰工程师将来分析测试中心做X射线显微镜技术及其最新应用进展专题培训会。X射线显微镜技术的发展为材料三维无损表征提供了新得研究手段,在微米、亚微米级分辨率三维成像尺度有明显的技术优势。德国蔡司X射线显微镜510 Versa采用光学+几何两级放大的专利成像技术,可实现大样品高分辨率和高衬度的成像。这种独特的技术特点突破了传统CT技术只能做小尺度样品的技术局限,开辟了微观三维尺度研究的新视野。本次报告将包括如下几方面内容:1、X射线显微镜技术介绍2、蔡司X射线显微镜技术的先进性3、X射线显微镜技术的应用4、X射线显微镜技术的应用拓展 后续两天将进行持续的现场培训,详细内容请查看PPT。20201021分析测试中心专题培训会:X射线显微镜技术及其最新应用进展时间:2020年10月21日,10:00-12:00。地点:纺织科学与工程学院F211 欢迎老师及研究生同学参加!
2020-10-17
分析测试中心请来具有丰富理论和实际经验的安东帕中国现任工程师李洋做SurPASS 3原理、应用和简单维护专题报告会,本报告将简要介绍SurPASS 3的原理以及此设备可以实现的各种测量,请同学们积极参与。仪器简介:Anton Paar SurPASS 3是一台高性能的固体表面zeta电位分析仪。 它采用了流动电势/流动电流法进行表面流动电势的测试,配备了全自动pH值滴定系统可以进行pH范围扫描测试,额外的氮气增压装置可以进行吸附测试。配备的可调狭缝样品槽和圆柱形样品槽,可以针对平板膜、中空纤维膜外表面和纤维、织物样品的宏观表面电位进行测试。 时间:2020年10月20日,9:30-11:30。地点:纺织科学与工程学院F211报告人:李洋工程师欢迎老师及研究生同学参加!20201013分析测试中心专题报告会:SurPASS的原理、应用及简单维护(定稿)
2020-10-13
分析测试中心请来毕业于美国爱荷华州立大学的杨宁博士做中心新XRD的专业应用报告,请同学们积极参与。时间:2020年9月8日,14:30-16:30。地点:纺织科学与工程学院F211报告人:杨宁博士欢迎老师及研究生同学参加!分析测试中心专题报告会-XRD-2020
2020-09-05
仪器设备
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