当前材料检测、微观表征、物相分析领域已全面迈入智能化、数字化AI升级新阶段。依托人工智能技术赋能实验室数据分析，是各分析测试中心、课题组提质增效、转型升级的核心发展方向。
Cleer AI数据分析系统可精准、高效完成SEM图像分析、光学显微图像分析、XAFS数据解析、XRD数据解析等主流检测设备数据处理工作，有效解决传统人工分析效率偏低、人为误差大、数据标准化程度不足、实验复盘溯源困难等行业痛点。该系统能够大幅削减人工数据分析成本，提升各类表征数据的分析精度与结果一致性，推动检测分析流程标准化、智能化、高效化落地，助力我校建设智能化标杆实验室，赋能高校学科建设、科研创新与产学研深度融合高质量发展。
为提升广大师生科研工具使用能力，提高表征数据、微观图像的分析效率与结果准确度，分析测试中心联合Cleer AI厂商，组织开展Cleer AI数据分析系统功能宣讲及应用案例实操分享活动，相关事宜通知如下：
一、活动内容及安排
（一）主讲人：王昭强，Cleer AI高级产品经理
（二）活动流程
场次类型 | 时间 | 举办地点 | 宣讲内容 |
产品功能介绍 | 7月9日 09:30–10:15 | 另行通知 | Cleer AI 数据分析系统整体架构、全功能模块讲解，包含成熟商用模块、试运行新模块功能演示 |
应用案例交流研讨 | 7月9日 10:15–11:00 | 另行通知 | 多场景实测案例展示、现场实操演示；围绕数据解析提速方案、分析精度优化方法、个性化功能定制需求开展答疑交流 |
二、报名相关要求
参与对象：仅限天津工业大学在校师生；
报名方式：加入分析测试交流QQ群（群号：948166355），在群内接龙登记报名；
报名截止：2026年6月30日，逾期不再受理报名。
先进分离膜材料全国重点实验室分析测试中心
2026 年 6 月 24 日