分析测试中心场发射透射电镜现已完成了安装和调试，于2020年11月25日起对校内试运行，欢迎校内师生预约测试！

一、仪器信息

（1）仪器名称：场发射透射电子显微镜

（2）仪器型号：JEM-F200

（3）主要配置：冷场发射电子枪、Oneview CMOS相机、无窗设计双探头能谱仪、STEM新式HAADF+A/BF探头、低背景双倾样品台、DENS原位加热样品杆、Gatan698冷冻样品杆等。

二、功能与指标

主要用于材料显微结构、成分等信息的分析，具备TEM、STEM成像；电子衍射；能谱点、线、面分析；原位加热测试；冷冻低温测试等功能。

（1）加速电压: 80KV 与200 KV，可快速进行不同高压切换；

（2）点分辨率：0.23nm（TEM）；0.19nm（STEM）；

（3）样品倾斜角度X/Y：±35°/±30°（双倾样品台）；

（4）EDS能谱能量分辨率：136 ev; 元素检测范围：B～U元素。

三、样品要求

（1）透射电镜不能直接观察所有含有铁钴镍元素的磁性样品，请做如下处理观察（如私自测试磁性样品，造成仪器故障，由预约课题组承担所有维修费用）：粉末样品请包埋切片，块体样品请FIB切片；

（2）透射电镜能够观察厚度为200nm以下的样品；

（3）对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分正反面；

（4）对于块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度小于200nm；

（5）高分辨样品要求厚度小于10nm。

四、测试收费

采用送样预约由管理老师进行测试，收费如下：

欢迎校内师生咨询联系！

仪器链接：http://atc.tjpu.edu.cn/equipment/77

地点：分析测试中心B103。

联系人：贾云玲（13581855772，jiayunling@tiangong.edu.cn）